Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 -  - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399988 - 2 juni 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Prijs
€ 50,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 17 - 25 sep.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.


724 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 2 juni 2012
ISBN13 9781461399988
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 704
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   1,14 kg
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Barrett, Charles S.
Uitgever Gilfrich, John V.
Uitgever Huang, Ting C.
Uitgever Jenkins, Ron

Meer van dezelfde uitgever