Vertel uw vrienden over dit artikel:
Advances in X-Ray Analysis: Volume 22 Gregory J Mccarthy Softcover reprint of the original 1st ed. 1979 edition
Advances in X-Ray Analysis: Volume 22
Gregory J Mccarthy
In keeping with recent practice, this year's Denver Conference on Applications of X-ray Analysis emphasized x-ray diffraction and was co-sponsored by JCPDS, International Center for Diffraction Data.
492 pages, biography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 12 december 2012 |
| ISBN13 | 9781461399896 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 492 |
| Afmetingen | 170 × 244 × 26 mm · 807 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | McCarthy, Gregory J. |
Meer door Gregory J Mccarthy
Alles tonenMeer van dezelfde uitgever
Bekijk alles van Gregory J Mccarthy ( bijv. Paperback Book )