Vertel uw vrienden over dit artikel:
Quantitative X-Ray Diffractometry Lev S. Zevin Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition
Prijs
€ 97,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 4 - 12 jun.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Quantitative X-Ray Diffractometry
Lev S. Zevin
One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.
398 pages, biography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 27 december 2011 |
| ISBN13 | 9781461395379 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 372 |
| Afmetingen | 170 × 244 × 20 mm · 630 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Mureinik, Inez |
Bekijk alles van Lev S. Zevin ( bijv. Paperback Book )