Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 17 - 25 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 oktober 2012
ISBN13 9781461377986
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 167
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver