Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 12 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Angela Krstic
Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 5 - 13 nov.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Angela Krstic

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 12 oktober 2012
Datum oorspronkelijke uitgave 1998
ISBN13 9781461375616
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 191
Afmetingen 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Angela Krstic