Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering - Kai-yuan Cai - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375593 - 12 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

Prijs
€ 214,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 7 - 21 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Kai-yuan Cai
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1


268 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 12 oktober 2012
ISBN13 9781461375593
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 268
Afmetingen 155 × 235 × 15 mm   ·   412 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door Kai-yuan Cai

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever