IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Ravi K Gulati
IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 12 - 20 nov.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ravi K Gulati

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 12 oktober 2012
ISBN13 9781461363774
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 124
Afmetingen 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Gulati, Ravi K.
Uitgever Hawkins, Charles F.

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Ravi K Gulati