Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461360049 - 4 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 29 okt. - 6 nov.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Frans P. M. Beenker
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

221 pages, black & white illustrations, bibliography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 oktober 2012
ISBN13 9781461360049
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 212
Afmetingen 155 × 235 × 12 mm   ·   326 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever