Vertel uw vrienden over dit artikel:
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing Frans P. M. Beenker Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1995 edition
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing
Frans P. M. Beenker
221 pages, black & white illustrations, bibliography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 4 oktober 2012 |
| ISBN13 | 9781461360049 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 212 |
| Afmetingen | 155 × 235 × 12 mm · 326 g |
| Taal en grammatica | Engels |