Vertel uw vrienden over dit artikel:
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits Jian Cheng Zhang Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 Edition
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Jian Cheng Zhang
Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.
234 pages, biography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 2 november 2012 |
| Datum oorspronkelijke uitgave | 1995 |
| ISBN13 | 9781461359357 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 234 |
| Afmetingen | 155 × 235 × 13 mm · 362 g |
| Taal en grammatica | Engels |
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld