Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31 mei 2013
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Joseph Goldstein

Prijs
R 2.555,66

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 13 - 25 jun.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Media Boeken     Book
Vrijgegeven 31 mei 2013
ISBN13 9781461349693
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 689
Afmetingen 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Taal en grammatica Engels  

Alles tonen

Meer door Joseph Goldstein

Anderen hebben ook gekocht