Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Boeken - Springer London Ltd - 9781447160687 - 22 februari 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Prijs
€ 144,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 5 - 13 nov.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Tomi Laurila
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 22 februari 2014
ISBN13 9781447160687
Uitgevers Springer London Ltd
Pagina's 218
Afmetingen 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever