High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31 januari 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Stephan Eggersgluss
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Prijs
€ 95,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 17 - 25 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

193 pages, 52 black & white tables, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 januari 2012
Datum oorspronkelijke uitgave 2011
ISBN13 9781441999757
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 193
Afmetingen 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Taal en grammatica Engels  

Mere med samme udgiver

Bekijk alles van Stephan Eggersgluss ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )