Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21 september 2011
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 16 - 24 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van J. Altet
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.


204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 21 september 2011
ISBN13 9781441952875
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 204
Afmetingen 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever