Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests - Nisar Ahmed - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945594 - 14 december 2011
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Nisar Ahmed
Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests 2008 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 23 okt. - 2 nov.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Nisar Ahmed

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.

281 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 14 december 2011
ISBN13 9781441945594
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 281
Afmetingen 155 × 235 × 15 mm   ·   421 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Nisar Ahmed