Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441937674 - 8 december 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Leendert M. Huisman
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Prijs
€ 115,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 30 okt. - 13 nov.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Leendert M. Huisman

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 8 december 2010
ISBN13 9781441937674
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 250
Afmetingen 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Leendert M. Huisman