Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - Alvin W Czanderna - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441932990 - 6 december 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 1st ed. Softcover of orig. ed. 1999 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 4 - 12 nov.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Alvin W Czanderna
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.


449 pages, 70 black & white illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 6 december 2010
ISBN13 9781441932990
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 430
Afmetingen 152 × 229 × 23 mm   ·   625 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Czanderna, Alvin W.
Uitgever Madey, Theodore E.
Uitgever Powell, Cedric J.

Meer door Alvin W Czanderna

Meer van dezelfde uitgever