Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29 oktober 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Prijs
€ 219,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 11 - 19 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 29 oktober 2010
ISBN13 9781441922090
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 522
Afmetingen 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Wang, Zhong Lin
Uitgever Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Bekijk alles van Weilie Zhou ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )