Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402077524 - 31 maart 2004
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Said Hamdioui
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing 2004 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 12 - 20 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

221 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 maart 2004
ISBN13 9781402077524
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 221
Afmetingen 155 × 235 × 14 mm   ·   526 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door Said Hamdioui

Alles tonen

Bekijk alles van Said Hamdioui ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )