Vertel uw vrienden over dit artikel:
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D.K. Bowen 1e uitgave
Prijs
€ 273,49
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 14 - 28 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van D.K. Bowen
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
D.K. Bowen
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
264 pages, black & white illustrations
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 5 februari 1998 |
| ISBN13 | 9780850667585 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Ltd |
| Pagina's | 262 |
| Afmetingen | 178 × 263 × 20 mm · 656 g |
| Taal en grammatica | Engels |
