Vertel uw vrienden over dit artikel:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1e uitgave
Pradeep Lall
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1e uitgave
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 24 april 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Inc |
| Pagina's | 328 |
| Afmetingen | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Taal en grammatica | Engels |
Bekijk alles van Pradeep Lall ( bijv. Paperback Book en Hardcover Book )