Vertel uw vrienden over dit artikel:
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)
Singh
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)
Singh
1052 pages, illustrations
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 30 juni 1999 |
| ISBN13 | 9780819431516 |
| Uitgevers | SPIE Press |
| Pagina's | 1052 |
| Afmetingen | 1,74 kg (Gewicht (geschat)) |
Alles tonen
Meer door Singh
Bekijk alles van Singh ( bijv. Book , Hardcover Book en Paperback Book )