Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - Yervant Zorian - Boeken - Kluwer Academic Publishers - 9780792399209 - 31 mei 1997
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

Prijs
€ 123,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 18 - 27 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.


167 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 mei 1997
ISBN13 9780792399209
Uitgevers Kluwer Academic Publishers
Pagina's 167
Afmetingen 203 × 254 × 11 mm   ·   535 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Zorian, Yervant