Vertel uw vrienden over dit artikel:
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)
Prijs
€ 155,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 30 jul. - 9 aug.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)
Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.
456 pages, 224 b/w illus. 10 tables
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 23 mei 1996 |
| ISBN13 | 9780521482660 |
| Uitgevers | Cambridge University Press |
| Pagina's | 458 |
| Afmetingen | 170 × 244 × 25 mm · 1,10 kg |
Bekijk alles van Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) ( bijv. Paperback Book en Hardcover Book )