Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques - Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) - Boeken - John Wiley & Sons Inc - 9780471624639 - 2 december 1987
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)

Prijs
€ 267,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 9 - 18 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

368 pages, Ill.

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 2 december 1987
ISBN13 9780471624639
Uitgevers John Wiley & Sons Inc
Pagina's 368
Afmetingen 165 × 240 × 23 mm   ·   610 g

Bekijk alles van Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) ( bijv. Hardcover Book )