Vertel uw vrienden over dit artikel:
Applied Measurement with jMetrik 1e uitgave
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Prijs
€ 227,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 7 - 16 jan. 2025
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Applied Measurement with jMetrik 1e uitgave
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 27 juni 2014 |
| ISBN13 | 9780415531955 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Ltd |
| Pagina's | 170 |
| Afmetingen | 152 × 229 × 15 mm · 362 g |
| Taal en grammatica | Engels |
Bekijk alles van Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )