Vertel uw vrienden over dit artikel:
Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Prijs
€ 71,49
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 8 - 22 jul.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.
150 pages, 7 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 81 Illustrations, black and white
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 7 oktober 2024 |
| ISBN13 | 9780367655389 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Ltd |
| Pagina's | 150 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 10 mm · 300 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Bruma, Alina (University of Maryland College Park) |
