Vertel uw vrienden over dit artikel:
Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications 1e uitgave
Prijs
€ 188,49
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 24 aug. - 7 sep.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.
184 pages, 7 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 81 Illustrations, black and white
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 21 december 2020 |
| ISBN13 | 9780367197360 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Ltd |
| Pagina's | 150 |
| Afmetingen | 241 × 159 × 17 mm · 406 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Bruma, Alina (University of Maryland College Park) |
