Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition - Joseph Goldstein - Boeken - Springer Science+Business Media - 9780306472923 - 31 januari 2003
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Third Edition 2003 edition


Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Joseph Goldstein
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.


709 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 januari 2003
ISBN13 9780306472923
Uitgevers Springer Science+Business Media
Pagina's 689
Afmetingen 178 × 255 × 38 mm   ·   1,68 kg

Meer door Joseph Goldstein

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever