Vertel uw vrienden over dit artikel:
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Joseph Goldstein Third Edition 2003 edition
Heb je een profiel? Inloggen
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Joseph Goldstein
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Joseph Goldstein
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
709 pages, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 31 januari 2003 |
| ISBN13 | 9780306472923 |
| Uitgevers | Springer Science+Business Media |
| Pagina's | 689 |
| Afmetingen | 178 × 255 × 38 mm · 1,68 kg |