X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films -  - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9789819659449 - 12 augustus 2025
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

Prijs
€ 81,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 29 okt. - 6 nov.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 12 augustus 2025
ISBN13 9789819659449
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 186
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   453 g
Uitgever Evans, Paul G.
Uitgever Sando, Daniel
Uitgever Valanoor, Nagarajan

Meer van dezelfde uitgever