Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - - Boeken - Springer, India, Private Ltd - 9788132234241 - 23 oktober 2016
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 7 - 15 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 23 oktober 2016
ISBN13 9788132234241
Uitgevers Springer, India, Private Ltd
Pagina's 269
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g
Uitgever Mahapatra, Souvik