Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Boeken - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1 november 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Prijs
€ 285,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 8 - 16 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 1 november 2012
ISBN13 9783709172049
Uitgevers Springer Verlag GmbH
Pagina's 554
Afmetingen 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Taal en grammatica Engels  

Meer door Peter Pichler

Alles tonen

Bekijk alles van Peter Pichler ( bijv. Book , Hardcover Book en Paperback Book )