Vertel uw vrienden over dit artikel:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Bharat Bhushan 2006 edition
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 22 februari 2006 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| Uitgevers | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Pagina's | 378 |
| Afmetingen | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| Taal en grammatica | Duits |
| Uitgever | Bhushan, Bharat |
| Uitgever | Fuchs, Harald |
Meer door Bharat Bhushan
Alles tonenBekijk alles van Bharat Bhushan ( bijv. Hardcover Book , Paperback Book en Book )
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld