Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22 februari 2006
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Prijs
€ 140,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 1 - 9 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 22 februari 2006
ISBN13 9783540269090
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 378
Afmetingen 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Bhushan, Bharat
Uitgever Fuchs, Harald

Meer door Bharat Bhushan

Alles tonen