Vertel uw vrienden over dit artikel:
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt / Oder, Germany)
Prijs
€ 149,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 9 - 16 nov.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt / Oder, Germany)
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt / Oder, Germany)
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films.
378 pages, Illustrations
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 15 november 2005 |
| ISBN13 | 9783527310524 |
| Uitgevers | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Pagina's | 378 |
| Afmetingen | 170 × 248 × 26 mm · 766 g |
| Taal en grammatica | Engels |
