Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Boeken - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 4 december 2017
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 28 jul. - 5 aug.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Sayil
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.


93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Media Boeken     Book
Vrijgegeven 4 december 2017
ISBN13 9783319696720
Uitgevers Springer International Publishing AG
Pagina's 93
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Taal en grammatica Duits  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Sayil ( bijv. Book )