Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - 24 augustus 2019
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

Prijs
€ 172,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 4 - 12 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Media Boeken     Book
Vrijgegeven 24 augustus 2019
ISBN13 9783030156114
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 408
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Celano, Umberto