Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Boeken - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12 augustus 2016
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Prijs
€ 155,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 8 - 19 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 12 augustus 2016
ISBN13 9781848219366
Uitgevers ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Pagina's 320
Afmetingen 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Meer door Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Alles tonen

Bekijk alles van Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) ( bijv. Hardcover Book )