Vertel uw vrienden over dit artikel:
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method Pierre-Richard Dahoo
Prijs
€ 155,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 8 - 19 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
Pierre-Richard Dahoo
288 pages
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 6 april 2021 |
| ISBN13 | 9781786306876 |
| Uitgevers | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| Pagina's | 288 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 20 mm · 562 g |
| Taal en grammatica | Engels |
Meer door Pierre-Richard Dahoo
Alles tonen
Bekijk alles van Pierre-Richard Dahoo ( bijv. Hardcover Book )