Vertel uw vrienden over dit artikel:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
Prijs
€ 121,49
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 22 jul. - 5 aug.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
179 pages, illustrations
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 19 november 2009 |
| ISBN13 | 9781605111285 |
| Uitgevers | Materials Research Society |
| Pagina's | 194 |
| Afmetingen | 160 × 236 × 18 mm · 432 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Butterbaugh, Jeffery W. |
| Uitgever | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| Uitgever | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| Uitgever | Rachmady, Willy |
| Uitgever | Taylor, Bill |
