Optical Inspection of Microsystems, Second Edition - Wolfgang Osten - Boeken - Taylor & Francis Inc - 9781498779470 - 25 juni 2019
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Wolfgang Osten
Optical Inspection of Microsystems, Second Edition 2e uitgave

Prijs
€ 337,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 24 sep. - 8 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Wolfgang Osten

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

This book provides an up-to-date survey of the most important and widely used full-field optical metrology and inspection technologies. Techniques such as interference microscopy, laser Doppler vibrometry, holography, speckle metrology, spectroscopy and deflectrometry and digital holographic microscropy for the inspection of MEMS.

600 pages, 32 Illustrations, color; 525 Illustrations, black and white

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 25 juni 2019
ISBN13 9781498779470
Uitgevers Taylor & Francis Inc
Pagina's 570
Afmetingen 262 × 188 × 30 mm   ·   1,38 kg
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Osten, Wolfgang (Universitat Stuttgart, Germany)

Meer door Wolfgang Osten

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Wolfgang Osten