Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience - Jian Min Zuo - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493966059 - 26 oktober 2016
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience 1st ed. 2017 edition

Prijs
€ 122,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 26 nov. - 4 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Jian Min Zuo
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy.


755 pages, 92 black & white illustrations, 218 colour illustrations, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 26 oktober 2016
ISBN13 9781493966059
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 729
Afmetingen 155 × 235 × 44 mm   ·   1,37 kg
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever