Vertel uw vrienden over dit artikel:
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 30 januari 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 491 |
| Afmetingen | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Meyer, Otto |
Meer door Otto Meyer
Alles tonenMere med samme udgiver
Meer uit deze serie
Bekijk alles van Otto Meyer ( bijv. Hardcover Book , Paperback Book en DVD )