Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30 januari 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Prijs
€ 50,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 11 - 19 jun.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 30 januari 2012
ISBN13 9781461588818
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 491
Afmetingen 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Meyer, Otto

Meer door Otto Meyer

Alles tonen

Mere med samme udgiver

Meer uit deze serie