Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 - Otto Meyer - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588788 - 31 mei 2013
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Prijs
€ 50,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 22 - 30 jul.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Otto Meyer
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


524 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 31 mei 2013
ISBN13 9781461588788
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 494
Afmetingen 178 × 254 × 26 mm   ·   898 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door Otto Meyer

Alles tonen

Mere med samme udgiver

Meer uit deze serie