Manoj Sachdev
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Manoj Sachdev Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007 edition

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing
Price: 191.99 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Manoj Sachdev

Prijs

€ 191,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 27 jul. - 4 aug.

Ontvang meldingen over nieuwe releases van Manoj Sachdev

Onze klanten zeggen:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving

Topnotering op Trustpilot

Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Hardcover Book

2nd ed. 2007 edition

(2007) € 191,99

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing

Manoj Sachdev

Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007 edition

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

328 pages, black & white illustrations

Media	Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven	10 november 2010
ISBN13	9781441942852
Uitgevers	Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's	328
Afmetingen	155 × 235 × 18 mm · 494 g
Taal en grammatica	Engels