CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Boeken - Cambridge University Press - 9781107408326 - 5 juni 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Prijs
€ 40,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 5 - 19 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 5 juni 2014
ISBN13 9781107408326
Uitgevers Cambridge University Press
Pagina's 194
Afmetingen 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Gewicht (geschat))
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Butterbaugh, Jeffery W.
Uitgever Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Uitgever Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Uitgever Rachmady, Willy
Uitgever Taylor, Bill

Mere med samme udgiver