Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - Boeken - Artech House Publishers - 9780890062845 - 31 januari 1989
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Microelectronic Reliability Vol. I: Test

Prijs
€ 150,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 20 nov. - 4 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Edward B. Hakim
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought


396 pages, 1, black & white illustrations

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 januari 1989
ISBN13 9780890062845
Uitgevers Artech House Publishers
Pagina's 396
Afmetingen 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
Uitgever Hakim, Edward B.

Meer van dezelfde uitgever