Mems Reliability For Critical and Space Applications - Lawton - Boeken - SPIE Press - 9780819434777 - 31 augustus 1999
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Mems Reliability For Critical and Space Applications

Lawton

Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Mems Reliability For Critical and Space Applications

A selection of scientific papers on the reliability of microelectromechanical systems (MEMS) for critical and space applications.


176 pages, illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 31 augustus 1999
ISBN13 9780819434777
Uitgevers SPIE Press
Pagina's 176
Afmetingen 393 g   (Gewicht (geschat))

Alles tonen

Meer door Lawton