Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Boeken - Springer - 9780792393528 - 30 juni 1993
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

Yusuf Leblebici

Prijs
€ 233,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 2 - 11 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.

229 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 30 juni 1993
ISBN13 9780792393528
Uitgevers Springer
Pagina's 212
Afmetingen 155 × 235 × 14 mm   ·   508 g
Taal en grammatica Engels  

Bekijk alles van Yusuf Leblebici ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )