Vertel uw vrienden over dit artikel:
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
Vrijgegeven | 31 december 2000 |
ISBN13 | 9780792366867 |
Uitgevers | Springer |
Pagina's | 624 |
Afmetingen | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
Taal en grammatica | Engels |
Uitgever | Griscom, David L. |
Uitgever | Pacchioni, Gianfranco |
Uitgever | Skuja, Linards |
Alles tonen
Meer door Gianfranco Pacchioni
Bekijk alles van Gianfranco Pacchioni ( bijv. Book en Paperback Book )