Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Gianfranco Pacchioni

Prijs

CA$ 343,43

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 16 - 26 jul.

Onze klanten zeggen:

Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Media	Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven	31 december 2000
ISBN13	9780792366867
Uitgevers	Springer
Pagina's	624
Afmetingen	153 × 234 × 20 mm · 875 g
Taal en grammatica	Engels
Uitgever	Griscom, David L.
Uitgever	Pacchioni, Gianfranco
Uitgever	Skuja, Linards

Alles tonen