Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy - Nigel D Browning - Boeken - Cambridge University Press - 9780521554909 - 6 juli 2000
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Nigel D Browning

Prijs
€ 187,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 21 - 30 jan. 2025
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.


406 pages, 267 b/w illus. 3 tables

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 6 juli 2000
ISBN13 9780521554909
Uitgevers Cambridge University Press
Pagina's 406
Afmetingen 170 × 244 × 24 mm   ·   1,13 kg
Uitgever Browning, Nigel D. (University of Illinois, Chicago)
Uitgever Pennycook, Stephen J. (Oak Ridge National Laboratory, Tennessee)